Abstract
探討多層薄膜結構和微區結構的磁特性是近年來很受重視的研究課題。實驗上，藉由調變膜層的厚度或微 結構的形狀與大小，一個系統的磁特性可隨之呈現不同的反應。這樣的特徵在實際的應用層面上已具發展潛力。 但在探索其物理源由的努力上，則需要有能夠偵測單一元素自旋結構以分辨各個組成成分間不同的反應與耦 合。應用已發展成熟的 X 光吸收能譜技術為基礎，本文簡述近期影像式光電子顯微術在磁性薄膜系統上的研究。
- Title
- 影像式光電子顯微術於磁性薄膜及微結構研究的介紹
- Creators - without role
- 德新 魏 - 國立清華大學理學院先進光源科技碩士學位學程瑤真 許
- Publication Details
- 物理雙月刊, Vol.26(4), p.620
- Identifiers
- 9957772703406774
- Academic Unit
- Science and Technology of Synchrotron Light Source Program, College of Science, National Tsing Hua University
- Language
- Traditional Chinese
- Resource Type
- Book chapter