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基材效應對薄膜奈米壓痕量測之影響
Conference paper

基材效應對薄膜奈米壓痕量測之影響

孟君 施, 恕德 何, 鶴南 林, 維釧 陳 and 信田 吳
2002年材料科學年會論文集 2002年材料科學年會論文集, p.39
2002

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