Abstract
掃描探針顯微術是近年來發展迅速的奈米級表面檢測技術,其中量測磁特性的稱 為磁力顯微術,這是利用磁性探針在樣品上掃描,藉著探針尖端與樣品的磁交互作用,得到 樣品表面磁力分佈,進而了解其磁化結構。本文將介紹磁力顯微術的基本原理,及其在磁性 薄膜檢測上的應用。
- Title
- 磁力顯微術原理及其在磁性薄膜檢測的應用
- Creators - without role
- 裕煌 邱鶴南 林 - 國立清華大學工學院材料科學工程學系
- Publication Details
- 科儀新知 科儀新知, (101), pp.41-48
- Identifiers
- 9957775420306774
- Academic Unit
- Department of Materials Science and Engineering, College of Engineering, National Tsing Hua University
- Language
- Traditional Chinese
- Resource Type
- Conference paper