Abstract
近場光學顯微術是一種新興的奈米級表面光學檢測技術,可突破傳統遠場光學顯 微術的繞射極限解析度限制,不論在物理、化學、材料或生物醫學等相關領域中均已被廣泛 應用,本文將就甚使用之光纖探針的研製方式以及兩種不同回饋機制之近場光學顯微系統作 一介紹。
- Title
- 近場光學顯微系統研製
- Creators - without role
- 思翰 陳龍正 李鶴南 林 - 國立清華大學工學院材料科學工程學系
- Publication Details
- 科儀新知 科儀新知, (107), pp.33-40
- Identifiers
- 9957774307106774
- Academic Unit
- Department of Materials Science and Engineering, College of Engineering, National Tsing Hua University
- Language
- Traditional Chinese
- Resource Type
- Conference paper