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低壓力、低流量次流臨界熱通率現象與理論分析
Dissertation

低壓力、低流量次流臨界熱通率現象與理論分析

涂光權
Doctor of Philosophy (PHD), 國立清華大學, 工程與系統科學系
1997

Abstract

臨界熱通率 低壓力、低流量 薄膜燒竭 環狀流不穩定燒竭 critical heat flux low pressure, low mass flux sublayer dryout annular flow instabiity
由於新進發展之進步型(自然循環)中/低功率反應器設計及研究用反應器 熱流設計等領域之應用以及商用核反應器安全分析之需要,低流量、低壓 力狀況下臨界熱通率之現與理論之研究,有愈來愈受到重視之現象。本研 究發現低流量(流量小於1000kg/㎡s)、低壓力(壓力約低於4.5MPa)狀況下 之沸騰危機與臨界熱通率現象皆具薄膜燒竭之特徵,並可進一步據其蒸汽 乾度或流態而區分次冷與低蒸汽乾度以及高蒸汽乾度等二種薄燒竭機制 :(1)次冷與低蒸汽乾度薄膜燒竭(2)高蒸汽乾度之薄夜膜燒竭本研究根據 此一發現,蒐集了19種不同來源之低流量、低壓力狀況下臨界熱通率 計893組數據,初步以流譜鑑別準則與蒸汽乾度來篩選低量、低壓力狀況 下之臨界熱通率數據,再比較池沸騰臨界熱通率來篩離臨界熱通率通率據 ,最後並立解釋二種不同現象與特徵之「薄膜燒竭」與「環狀流不穩定燒 竭」之理論模式。本研究於比較常用之經驗式與理模式時,已證實此二種 新發展之薄膜燒竭理論模式十分優越。此外,本研究亦利用Simplex最佳 化分析法則尋找最適之經驗常數,並證實其優異之適用。本研究最後並逐 一分析、檢討各個系統參數與臨熱通率之關係,不僅證明此二種理論模式 之預估結論與一般實驗觀察相同,並且驗證此二種理論模式之正確性與優 越性。

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