Dissertation

薄氧化層可靠度研究

王黎順

Doctor of Philosophy (PHD), 國立清華大學, 電機工程學系

1996

Abstract

薄氧化層

可靠度

Thin Oxide

Reliability

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Details

Title: 薄氧化層可靠度研究
Translated title: 薄氧化層可靠度研究
Creators: 王黎順
Contributors: 葉鳳生 (Advisor)
Awarding Institution: 國立清華大學, 電機工程學系; Doctor of Philosophy (PHD)
Theses and Dissertations: Doctor of Philosophy (PHD), 國立清華大學, 電機工程學系
Language: Traditional Chinese
Resource Type: Dissertation