Abstract
近年來超晶格與量子阱結構的研究已見大量地報告, 光學性質方面最基本的參數為複數折射率N,在可見光區域3800 -7500 還很少人用實驗的方法來決定N 值, 本文裡我們建立一套系統來量測它在這個波段的複數折射率N。我們製作了一套程式, 可將有限波段的絕對反射率值, 經由Kramer-Kronig 關係式內插數點由橢圓偏光術所量得之N 值, 得到所有量測波段的N 值。這個方法避免了Kra-mer-Kronig關係式對全波段量測的要求, 也不須要用橢圓偏光術長時間對整個量測波段逐點----最測, 兼具方便、省時的優點。整個實驗中所須的光學測量系統均是由我們實驗室自行建立起來，其中橢圓偏光儀由以前的學長所裝置完成，我們自己則裝置了一套全自動的光學絕對反射率量測儀，在整個量測的過程中都完全由微電腦自行控制，自動的做資料處理、繪圖、分析。自動化絕對反射率光譜儀可以準確的測量絕對反射率，同時在整個測量的過程中都由個人電腦(PC)自動的擷取資料，不須要人為的持續注意。因為測量的時間相當的久，可能發生斷電，突然的強光干擾、儀器的熱漂移(thermo run away) 等等現象。本系統都將這些因素克服了。資料的處理、畫圖，則結合了各種套裝軟體，將資料以最好的方式展現出來。實驗的結果，從反射率來看，形成最子阱結構時，仍然保有本來塊材(bulk)的特性，不過其性質已經微弱很多。另外它會出現新的特性－－次能帶躍遷。