Abstract
IC產品是今日高科技的結晶，大半用於精密商業或軍事設備上，其可靠度極為重要，而要如何以簡單的統計分析，並能提供產品可靠度訊息，而引起本人對IC作ESS 之加速壽命試驗研究的動機。本研究主要的目：（１）規劃－ALT 及分析的程序，以作為廠商的參考。（２）以傳統統計方法及貝氏估計找出產品壽命曲線，以便預燒時間、MTTF及保證時間之決定。（３）證明電子產品失效率是否呈〞浴缸曲線〞或指數分佈。分析方法可分為兩類：（１）傳統統計方法：參考〔３８〕所提Ｓ出曲線圖式方法取代原有的〞浴缸曲線〞模式。參考〔１９〕所提之模式或條件可靠度模式來描述預燒後之剩餘可靠度。參考〔３１〕所提模式或圖解的方式來估計產品的最小壽命。（２）貝氏估計：參考〔１９〕〔５０〕的模式來判定失效元件屬於早期分佈的機率，同時估計屬於早期分佈的比例值。本研究提出一貝氏估計模式，估計值比前者客觀。由〔５２〕所昃形狀及尺度參數均未確定之韋氏貝氏估計模式，並依過去的資料，專家的建議及實驗的數據，求出較客觀的參數，以得一較實際的模式。結果可歸納成幾點結論：（１）採用Ｓ曲線模式在數學上較容易分析。其可以預測磨耗發生的情形。以前假設主分佈是指數分佈常會造成壽命高估的現象。尤其求加速因子時採用Arrhenius 方程式更會造成錯誤的估計。由模式或圖形能容易的決定預燒時間。可以簡單的方法估計最小壽命。（２）用貝氏推論來估計韋氏兩參數及ｐ值，其法優於Ｓ曲線模式，因其除了實際的試驗數據外，還考慮專家的意見及過去相關的資料。（３）試驗失效的元件，經分析人員的分析，找出失效的原因，提供設計、製造的改進參考。