Abstract
我們將同步循序電路的結構區分成三個區域：純粹單一事件區（ R1）， 純粹多重事件區（R2），和混和事件區（R3）．在純粹單一事件區中的錯 誤只會在偵錯模擬的過程開始時產生單一事件，所以此一區域在偵錯模擬 的過程中可以被視為組合電路．在純粹多重事件區中的錯誤會在偵錯模擬 的過程開始時產生多重事件，在混和事件區中的錯誤會在偵錯模擬的過程 開始時產生的事件數視輸入樣本的不同而改變．在本論文中我們提出了一 個區域導向偵錯模擬器．我們用組合電路偵錯模擬器的技巧來加速同步循 序電路的偵錯模擬．我們在 PARIS上實現了兩種演算法．其中之一準確的 輸出錯誤含概率，而另一較快速的演算法則回報近似的結果．加速比率大 約和R1及R3中錯誤的百分比成線性的關係．R1及 R3中錯誤的百分比隨線 路的不同而不一樣，所以加速的比例亦和線路有關．輸出準確錯誤含概率 的演算法有1.09的平均加速比例，而另一近似的快速演算法則1.30的平均 加速比例．兩者都是和原來的 PARIS演算法做比較．另外我們也在HOPE上 設計了一個演算法，其中的無分支區域錯誤群組的方法和原來的HOPE演算 法做比較有1.10的平均加速比例．同步循序電路的結構分區也可以應用在 分散式系統中的錯誤分配的方法，已使分配到計算單元的負擔更平均，避 免有部份的計算單元計算時間過長．