Abstract
在我們的生活中，硬碟已經成為一項不可或缺的生活必需品之一，且人們對硬碟容量的需求越來越大，提升硬碟的記錄密度已勢在必行。傳統的水平記錄媒體在提升記錄密度時遇到了所謂”超順磁”的極限，我們必須開發新的記錄媒體以提升記錄密度。 本研究著重於CoPtCr-SiO2 為記錄層的垂直記錄媒體。此垂直記錄媒體的記錄層需要適當的中介層來提升其記錄層的六方晶結構，所以我們一開始先探討以Ta 和 Ru 為主的膜層結構；我們利用X-光繞射儀(XRD)來分析晶體結構。接著我們探討現今被廣泛使用的Dual-Ru膜層結構，利用震動樣品測磁力計(VSM)來量測其磁性質的表現。最後，我們提出一個代替Ru的材料：MnRu，利用上述的儀器來量測其結構和磁性上的表現。