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IC製程中線寬的回饋控制
Thesis

IC製程中線寬的回饋控制

蘇哲嶔
Masters, National Tsing Hua University
1998

Abstract

曝光誤差線寬微調參數 EPCFeedback controlRobust Design
本文主要分為三大部分,分別為簡介、自動控制的相關理論及實例操作的部份,在簡介的部份中,簡單的介紹了半導體的製程,及本篇論文的研究目的,而在自動控制的相關理論□,主要是介紹一個現在常用的控制程序,以及提出一個更一般化的控制程序,而在實例操作的部份,則以德積半導體公司所提供的兩筆資料,利用第二部份所提出的程序,實際下去作一些模擬,並得到一些結論• 本文所得到的結果是,如果未控制誤差傾向於隨機誤差,則在控制中應該加上管制界限,如果未控制誤差並非傾向於隨機誤差,則不應加上管制界限•

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