NAND型快閃記憶體胞間空隙對干擾、可靠度及耐久度之影響

Thesis

NAND型快閃記憶體胞間空隙對干擾、可靠度及耐久度之影響

陳哲平

Masters, 國立清華大學, 積體電路設計與製程開發產業碩士專班

2017

Abstract

胞間空隙

干擾度

可靠度

耐久度

Airgap

Interference

Reliability

Endurance

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Details

Title: NAND型快閃記憶體胞間空隙對干擾、可靠度及耐久度之影響
Translated title: NAND型快閃記憶體胞間空隙對干擾、可靠度及耐久度之影響
Creators: 陳哲平
Contributors: 金雅琴 (Advisor)
Awarding Institution: 國立清華大學, 積體電路設計與製程開發產業碩士專班; Masters
Theses and Dissertations: Masters, 國立清華大學, 積體電路設計與製程開發產業碩士專班
Language: Traditional Chinese
Resource Type: Thesis
Date published: 2018