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Ti-Si-N膜之研究
Thesis

Ti-Si-N膜之研究

洪愷誠
Masters, 國立清華大學, 材料科學工程學系
1998

Abstract

矽化鈦 氮化鈦 真空快速退火 Titanium Titanium Nitride Titanium Silicide Vacuum RTA
本實驗利用自行組裝的中空陰極磁控直流濺鍍(hollow cathode DC magnetron sputter)系統在(100)矽基板上鍍上含有鈦、矽、氮三種成分但具有不同比例的薄膜,觀察其薄膜性質,並且比較其退火處理後的性質變化。 鈦矽之間要產生C-54相的TiSi2,一般而言都需要在700℃以上的退火處理,但是對於同時含有鈦矽的薄膜來說,可以在低於門檻溫度的650℃的退火處理後找到C-54相的存在,這證明了鈦矽的混成鍍膜確實有利於TiSi2高溫相的提早產生。 而同時具有鈦、矽、氮三元的薄膜,會隨著氮含量的不同而在性質上有相當的不同。當氮含量高時,退火時TiN會扮演擴散阻障層的角色,防止鈦矽反應。當氮含量低時,氮反而會因剷雪效應,被鈦矽反應物推擠到表面產生TiN。

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