Abstract
本研究中，我們以經濟的角度，也就是成本之分析來討論測試方法之於成 本的關係，並發展了一套軟體工具：超大型積體電路晶片測試策略之經濟 分析系統。半導體技術的快速發展，使得邏輯閘的尺寸越來越小，電路的 複雜度越來越增加時，電路的測試變得越來越複雜而且困難。在這種環境 下測試已是一種必須注重品質、時間、成本、工具及決策的重要步驟。一 般而言，一個優良且具競爭力的產品應具有四種基本特性：較低之成本、 較早上市、高品質及最新之技術。然而此四種驅動力卻會互相影響，同樣 地，影響產品的總成本。這引發了我們研究此一題目的動機以嘗試找到一 個最佳解來提高產品之競爭力。將測試方法應用至電路上時，顯而易見的 ，可提高此電路的可測度或控制度及觀測度。但若將所有可應用之測試方 法皆應用至電路上，則可能徒勞無功，得到一個遠離最佳解的結果。以經 濟成本的角度來看，加入過多的測試方法在成本上就好像是沒有加入一樣 ，正所謂過猶不及。這也引發了我們研究的動機，來尋找一個真正最佳的 解，讓所設計的電路在維持品質的條件下，得到最低的成本。我們以不同 的測試方法加諸於電路，依所得之總成本值來作為最佳化之依據。依此觀 念，我們需要一個測試方法資料庫來提供電路之可能測試方法組合；需要 一個成本模型(Cost Model)作為衡量成本的工具。此皆在本研究中有完整 之發展。而最佳化的程序則是經由不斷地選擇測試方法，應用至電路上並 計算其總成本值來實行。在此研究中，我們發展了一套分析系統，此系統 提供予使用者一個圖形介面以使方便操作及容易理解。同時討論了一個 以1149.5 MTM-Bus僕模組晶片為主的個案討論。我們發展了一個基本的分 析環境以實行測試策略的經濟分析，而且討論了產品電路之不同測試方法 對總成本的影響效應。未來，許多自動最佳化的演算法將會被加入此系統 中，並研發更接近實際及完整的成本模型及利潤模型(Revenue Model) 。 同時，應有更豐富的測試資料庫被建立及加入系統中。