Abstract
由於超大型積體電路（VLSI）的技術不斷地提昇，使得晶片的密度與操作頻率正以驚人的速度在增加之中。然而，其伴隨而至的較多的功率消耗，不但使得晶片產生散熱的問題，也可能引發軟式錯誤（soft error），並且使得晶片的壽命減低。因此，如何估計積體電路中的功率消耗便成了亟待解決的一項課題。 最近所提出的關於估計功率消耗方面的工具及文獻，大部分是以機率分佈為基礎【1,2,4-10】。我們在此論文中，將針對以統計的技巧為基礎的功率估計方式做分析，並提出我們的一些改進方法： 首先，對於輸入樣式的產生，我們利用了線性全等法（linear congruential method）來產生虛擬隨機數（pseudorandom numbers），藉以產生獨立的輸入樣式。同時，我們也指出錯誤的輸入樣式可能使得功率消耗估計的結果產生誤差。因此，必須對錯誤的輸入樣式加以過濾，以增加估計結果的精確度。 接下來，為了要縮短功率估計所需的時間，我們可以藉由尋找電路中不含錯誤路徑（false path）的最長延遲時間路徑來設定最短的設置（setup）時間。然後我們對於每一次模擬時取樣階段所需的時間，由原來固定的時間長改為可變動的時間長。即根據每次估計後所產生的誤差值來調整下一次在取樣階段所需的時間，如此一來，便可藉由可變動的取樣時間達到最經濟的估計時間。 最後，我們提出一個以滑動視窗（sliding window）的方式來加速判斷狀態機率是否已達到收斂的方法。