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p-GaN/Ru/Ag/Al與p-GaN/Rh/Ag/Al反射式 歐姆電極光電特性與熱穩定性之研究
Thesis

p-GaN/Ru/Ag/Al與p-GaN/Rh/Ag/Al反射式 歐姆電極光電特性與熱穩定性之研究

陳延存
Masters, 國立清華大學, 材料科學工程學系
2010

Abstract

p-GaN Ru/Ag/Al及Rh/Ag/Al反射式歐姆電極 光電特性 熱穩定性
本論文以電子槍蒸鍍系統製備p-GaN的反射式歐姆電極Ru(2nm)/Ag(150nm)、Ru(2nm)/Ag(150nm)/Al(2nm)、Ru(2nm)/Ag (150nm)/Al(5nm)、Rh(2nm)/Ag(150nm)、Rh(2nm)/Ag(150nm)/Al(2nm)及Rh(2nm)/Ag(150nm)/Al(5nm)等六組試片,探討Al覆蓋膜層的添加以及爐管與快速退火爐兩種退火方式,對於Ru/Ag/Al及Rh/Ag/Al反射式歐姆電極光電特性的影響。探討內容包含反射式歐姆電極的光反射率、金屬薄膜片電阻與特徵接觸電阻,以及各性質之熱穩定性,並使用掃描式電子顯微鏡觀察試片表面樣貌,分析不同夾層材料Ru、Rh的特性差異及Al薄膜的添加對於抑制退火後Ag薄膜凝聚的效果。結果顯示,退火後Ru/Ag不會有凝聚而破孔的現象,光反射率下降幅度甚小,片電阻也大致不變。但是Rh/Ag經過500 oC爐管退火的Ag膜凝聚較激烈,產生少許破孔,光反射率下降較明顯,片電阻也增大一些。Ru/Ag/Al及Rh/Ag/Al在同樣的退火條件下,Al超薄膜(2 nm)的覆蓋,可以使退火後的Ru/Ag/Al及Rh/Ag/Al表面更平滑,且經長時間400 oC時效退火後反射率變化不大,金屬薄膜片電阻與特徵接觸電阻數值亦大致無顯著變化。Al超薄膜的添加可增進熱穩定性。綜合考量各項光電特性,經長時間退火後Ru/Ag/Al表現比Rh/Ag/Al優異,且Al薄膜厚度為2 nm時可以得到最佳結果。若以製作發光二極體之p-GaN反射式歐姆電極的應用而言,本論文之研究以p-GaN/Ru(2nm)/Ag(150nm)/Al(2nm)表現最佳,在空氣流通的石英爐管中,500 oC退火5分鐘後,可以得到在460 nm的光反射率為70%,金屬薄膜片電阻為0.15 Ω/□,特徵接觸電阻為1.1×10-3 Ω-cm2,且具有良好的熱穩定性。

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