Abstract
二次離子質譜術(SIMS)是一種應用得十分廣泛的分析方法，無論在電子材料、陶瓷、有機、無機物質或生物樣品等研究領域都有相當重要的貢獻。本論文主要分為兩部份，第一部份是SIMS決策支援系統，第二部份則是以影像SIMS對FCC觸媒及培養細胞所做的研究應用， 並以自行建立的三維影像系統，進行分析實驗。決策支援系統(DSS)是利用數學模型，經由電腦的計算和推導，預測可能的結果，做為使用者決策的參考。SIMS-DSS能提供多種的資訊，如：離子源及監測離子的選擇、解析度相關的模擬縱深分佈及質譜、和儀器設定的參數，使得極需要經驗的SIMS分析，能在最少的成本和風險下完成。而SIMS-DSS所模擬的結果，也可以和實際分析的結果相比較，排除SIMS可能發生的假現象，使分析結果得到正確的詮釋。影像是SIMS重要的一種分析結果，利用SIMS影像，可以分析樣品表面或接近表面的二，三維元素分佈的數據。在FCC 觸媒的樣品中，觀察到數種毒化抑制劑都具備抓釩的能力，而Mg/Al2O3抑制劑中的鎂，有遷移到觸媒的現象發生。在細胞樣品中，發現含硼尋瘤藥 BSH會進入各種細胞中，但腫瘤、正常細胞比(T/N)卻不高，而含釓尋瘤藥Gd-DTPA 則分佈在細胞膜附近。三維的影像分析展示了不同污染源對影像分析的影響，而細胞樣品的分析則指出以三明治包夾脆裂-冷凍乾燥法製備的樣品，無法看到細胞內的三維結構。