Abstract
本論文針對待測微小工件進行全周面量測，建立一五軸雷射掃瞄機系統，包括軟體與硬體，結合量測與安裝校正方法發展了一套誤差模型來描述此五軸雷射掃瞄機在進行量測時的情形，以便找出機器之誤差源予以補償並做為日後改進的準則，並可利用此模型來將機械量測位置還原至正確的工件座標位置，以提升量測精度。
- Title
- 五軸雷射掃瞄機之研究與開發
- Translated title
- 五軸雷射掃瞄機之研究與開發
- Creators
- 蔡光憲
- Contributors
- 雷衛台 (Advisor)
- Awarding Institution
- 國立清華大學, 動力機械工程學系; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, 國立清華大學, 動力機械工程學系
- Language
- Traditional Chinese
- Resource Type
- Thesis
- Date published
- 2006