Abstract
隨著積體電路的功能日趨複雜以及體積愈作愈小，設計與製作積體電路出錯的機會也跟著增加。雖然提高製造技術可以使得這種出錯率減少，但是，製造超大型積體電路（VLSI）晶粒時的失誤率仍然比製造大型積體電路（LSI ）或中型積體電路（MSI ）時大很多。學術界已提出許多關於測試超大型積體電路（VLSI）的技術。在本篇論文中，我們選擇其中的兩種方法來製作我們的系統：?Concurrent Test Generation Using AI Techniques；?Critical Path Tracing-An Alternative to Falult Simulation。後者已被一些有名的自動產生測試（Automatic Test Generation ）系統所採用，並且已被證明成效不錯。我們利用專家系統的方式來製作這兩種方法，因為我們希望能模擬專家測試電路的方法來自動產生電路測試值。因此，我們需要在產生過程中加入許多人類的經驗與智慧，這就是所謂的專家系統。在現今的許多專家系統製作工具中，GoldWorks 的功能相當強，可以同時作前項（foward）與後項（backward）推理，並且能以結構化方式來儲存知識與經驗法則，可以說已完備了製作專家系統所需要的各項功能，因此，我們採用它作為我們的製作工具。