Abstract
本實驗以導電性原子力顯微術(conducting atomic force microscopy, CAFM) 量測有機發光材料—導電高分子MEH-PPV [poly(2-methoxy-5-(2’-ethyl-hexyloxy)-1,4-phenylene vinylene)]—之奈米尺度電流傳輸特性，此實驗架構之解析度在表面形貌(morphology)上可達nm等級、在電性上亦可量測nA之電流，可同時量得樣品表面形貌與區域電流大小。經過統計分析後可獲知電流分佈趨勢，得到試片內之微觀電流傳輸差異。此外，以定點量測電壓與電流特性，可以獲得區域電流對電壓的關係曲線，利用目前廣為接受的空間電荷限制傳導理論(space charge limited conduction, SCLC)，以及與電場具有指數關係之遷移率(mobility)關係式，可計算出零電場之遷移率與傳輸的電場係數，本文中亦將所得數據與一般巨觀量測比較。本實驗方法為一高解析度的量測工具，可以此架構量測有機發光材料之區域及定點電流特性、幫助製程參數選擇，以及作為產品測試與檢驗之工具。