Abstract
本論文主要在於探討層疊偵檢器應用在X光輻射偵測上的可行性。利用層疊偵檢器針對X光機所釋出之X光輻射進行量測，配合自由空氣游離腔之校正，求出以該偵檢器量測相關X光劑量的校正曲線，期能應用在醫院X光機照射的劑量的量測上。 研究過程中將先量測出層疊偵檢器在不同X光機操作條件下所量測的計數值，根據自由空氣游離腔量測所得的劑量曲線，修正得出相對的劑量－計數值校正曲線。為簡化以層疊偵檢器量測量的應用研究過程中亦嘗試歸納出一通用之公式，期能根據不同X光機操作的條件與偵測系統直接量測的計數值，而推估出其對應之劑量。 研究結果顯示可以使用層疊偵檢器中的NaI(Tl)有效地量測X光輻射，並用來評估相關的劑量。並且從X光機系統各操作條件的相關探討中，我們可以近一步歸納出一通用的經驗公式，並應用於有效劑量的估算。