Abstract
在本論文中, 提出了一種測量雙折射係數的新方法：藉由改變光源的波 長, 量測雙折射係數所造成相位延遲的變化. 由於這種方法不需要對待測 物進行切割, 可以避免加工時對待測物所造成的破壞, 並可以藉由控制波 長的改變量, 維持相角的變化在2π以內, 避免了判讀數據上的麻煩. 同時在第三章中, 觀察到光源中心波長極小的變化( 10MHz ), 對於相角 造成的影響, 這個結果的意義在於：我們可將相角的改變量, 利用回饋裝 置( feed-back ), 進而控制雷射光源的電路, 改善光源波長的穩定度. 另外在第四章中, 測量到一組在不同光源波長下, 波片BL值的變化情形( 雖然其變化量相對於BL值本身的確很小 ), 並藉由一次近似的方法, 得到 BL值對應波長λ的一次式, 吾人可以利用這個結果, 測量光源的波長, 這 對於測量光源的波長, 可以提高準確性.