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Thesis
以計數函數法對設計中相異試驗點個數之探討
黃國仁
Masters, 國立清華大學, 統計學研究所
2006
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Abstract
相異試驗點
理想
基底
ideal
Grobner basis
在現今講究高效率以及高品質的工業社會中,實驗設計所扮演的角色也越來越形重要,近幾年來,計數函數的出現為實驗設計上的研究上提供了不同以往的工具,其在正規設計與非正規設計之間扮演著連接橋樑的角色,對於非正規設計的理論研究發展上提供了大量的研究課題。而實驗設計中設計的相異試驗點個數一直為我們感興趣的部分,因為在設計中相異試驗點的個數,代表可估模型最多可容納的不同效應之上限。在本篇論文中,我們將利用代數學中的理想與Grobner基底來探討實驗設計中相異試驗點的問題。
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Title
以計數函數法對設計中相異試驗點個數之探討
Translated title
以計數函數法對設計中相異試驗點個數之探討
Creators
黃國仁
Contributors
鄭少為 (Advisor)
Awarding Institution
國立清華大學, 統計學研究所; Masters
Theses and Dissertations
Masters, 國立清華大學, 統計學研究所
Language
Traditional Chinese
Resource Type
Thesis
Date published
2007
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