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以隨機電報雜訊研究鰭式場效電晶體閘極氧化層缺陷之特性
Thesis

以隨機電報雜訊研究鰭式場效電晶體閘極氧化層缺陷之特性

郭秉翰
Masters, 國立清華大學, 電子工程研究所
2017

Abstract

隨機電報雜訊 缺陷陷阱 可靠度 鰭式場效電晶體 Random Telegraph Noise trap reliability FinFETs
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