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Thesis
以隨機電報雜訊研究鰭式場效電晶體閘極氧化層缺陷之特性
郭秉翰
Masters, 國立清華大學, 電子工程研究所
2017
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隨機電報雜訊
缺陷陷阱
可靠度
鰭式場效電晶體
Random Telegraph Noise
trap
reliability
FinFETs
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Title
以隨機電報雜訊研究鰭式場效電晶體閘極氧化層缺陷之特性
Translated title
以隨機電報雜訊研究鰭式場效電晶體閘極氧化層缺陷之特性
Creators
郭秉翰
Contributors
連振炘 (Advisor)
Awarding Institution
國立清華大學, 電子工程研究所; Masters
Theses and Dissertations
Masters, 國立清華大學, 電子工程研究所
Language
Traditional Chinese
Resource Type
Thesis
Date published
2017
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