Abstract
隨著科技的進步和產品品質的提昇，對於高可靠度產品的研發勢在必行。因此，針對現今之高可靠度產品，特別是電子產品而言，在產品送交顧客手中之前給予測試與評估其壽命，已成為生產者與製造商所面臨之重要問題。如果存在一產品之品質特性質與其壽命具有高度相關，則可使用品質特性質之衰變路徑來估計產品的壽命。如果品質特性質的衰變路徑通過某一臨界質，則稱此產品失效。若此產品特性質可以被某些性質所構建，則不需要觀測到失效資料則可估計此產品之壽命。
- Title
- 使用衰變資料對高可靠度產品壽命函數之估計
- Translated title
- 使用衰變資料對高可靠度產品壽命函數之估計
- Creators
- 邱智揚 (Author)
- Contributors
- 唐正 (Advisor)
- Awarding Institution
- National Tsing Hua University; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, National Tsing Hua University
- Resource Type
- Thesis
- Date published
- 2002
- Language
- English