Abstract
兆赫波輻射（THz Generation）之技術由於系統資訊需要更快速之響應與處 理速度，而於近幾年有相當程度之發展，且在各個領域都有很多相關的應用，不 論是在醫學上（如：乳癌、血糖濃度之偵測）、通訊上（如：光波導中之傳遞現 象）、國防上（如：雷達之偵測）、短脈衝訊號（Pico-Second Pulses）與材料的量 測上都有相關之應用。 在本論文中，我們作了一個嘗試，也就是將之前實驗室所使用的大孔徑光導 天線（Large-Aperture Photoconducting Antennas）改成側面輻射之兆赫波源，來 試驗其應用於平面光路的可能性，而這也是由於大孔徑光導天線之光導間隙與砷 化鎵晶片之厚度皆為500μ左右，因此可將二者的輻射效率作一比較；在此，我 將電極做成一些不同的結構來形成側面輻射的兆赫波源，然後進行量測工作，進 而分析、討論其優劣性；另外，我們也利用實驗室所架設之兆赫輻射量測系統， 來對鐵氟龍錐形波導（Tepered Teflon Waveguide）進行量測工作，由此觀察於某 一斜率下之錐形鐵氟龍波導，在不同聚焦情形下，THz於錐形波導中之傳遞的 現象，最後，此論文會使用BeamPROP軟體來作一些簡單之模擬分析與結果討 論，希望藉此，能對THz於光波導上的應用（平面光路、光源與光纖的耦合介 面）奠下良好基礎。