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共振多光繞射在氧化鐵系統之研究
Thesis

共振多光繞射在氧化鐵系統之研究

翁世璋
Masters, National Tsing Hua University
2008

Abstract

共振繞射X光繞射複繞射氧化鐵 resonant x-ray scatteringx-ray diffractionFe3O4Fe2O3HematiteMagnatite
共振X光繞射(Resonant X-ray Sscattering; RXS)是研究強相關系統最為普及的一種技術。如同RXS一般,共振多光繞射亦提供色散修正(Dispersioncorrection)資訊。此外,共振多光繞射不僅提供強度資訊,也提供了相位資訊。在此篇論文中,乃應用共振多光繞射方法於探究兩種鐵氧化物系統—Fe2O3及Fe3O4。在Fe2O3系統(即所謂的Hematite)中,在鐵的K吸收邊及前吸收邊內,可觀察到兩次相位反轉之現象。共振多光繞射計算顯示出與實驗一致之相位變化。於Fe3O4系統中,其低溫下的電荷有序結構(Charge Ordering)仍為未解的問題。為了研究八面體鐵原子上的電荷不對稱性,我們量測(002)/(��3��11) 與(002)/(311) 兩組三光繞射在鐵K 吸收邊之強度變化。多光共振繞射的實驗結果顯示出低溫下的電荷有序結構, 而其電荷不對稱性為:2.9+ 與2.1+。

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