Abstract
本篇論文針對超大型積電路(VLSI)的測試向量(Test Pattern)提出一個新的產生方法。此方法名稱為分段式測試向量產生演算法。以往的測試向量演算法每次只想把錯誤訊號往前推一步，並沒有考慮到往後怎樣辦。分段式測試向量產生演算法，試圖把錯誤訊號每次推一小段，直到錯誤訊號推到輸出端為止。分段式測試向量產生演算法除了上述主要作法外，它還採用了 2個策略。第一個策略是把電路的狀態分的更清楚，以往表示電路的狀態為 0和 1，我們更仔細的區分為 0為“一定為 0”和“可能為 0”，區分 1成“一定為 1”和“可能為 1”，此種區分，更明確的指明電路的狀態，使得分段式測試向量演算法可避免不必要的測試工作。以往的演算法總是盯準特定的解空間去找解，但因解空間太大，且找解規定的時間有限，如果在找解的過程中，不幸的很早就作了錯誤的判斷，那麼找到解的機會就很小，所以在分段式測試向量演算法裡，第二個策略是它不盯準一塊特定的解空間，當它花了一些時間在這塊解空間仍找不到解，它就認定再做也找不到解，它跳到另一塊解空間繼續找解。經由實驗結果證明，分段式測試向量產生演算法可得到不錯的錯誤覆蓋率(Fault Co-verage) 。且分段式向量產生演算法所採用的兩個策略，對整個過程有很大的幫助。