Abstract
”插入電子束撞擊”的方法：能在較低溫度下測得質譜，因此我們利用該方法對核酸類化合物的質譜做分析及其和正常電子撞擊法做比較，然後對核酸類化合物的質譜，歸納、整理，希望能找出核酸類化合物的質譜斷裂碎片的共同性。
- Title
- 利用: 插入電子束撞擊"" 之方法測定核酸類化合物質譜研究
- Translated title
- 利用: 插入電子束撞擊"" 之方法測定核酸類化合物質譜研究
- Creators
- 林啟滄 (Author)
- Contributors
- 劉高家秀 (Advisor)
- Awarding Institution
- National Tsing Hua University; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, National Tsing Hua University
- Resource Type
- Thesis
- Language
- English