Abstract
X光的相位問題由來已久。複繞射則是和相位有關的效應之一。最近的發展顯示三光的動力繞射理論即使是對非完美晶體的相位決定仍有很好的結果, 複繞射已被確認為以實驗方法解決相位問題的有力工具。本文除利用複繞射獲取相位訊息外,同時用複繞射引起的強度變化來求得結構因子的大小。實驗結果顯示我們的相位計算公式尚應輔以其他的判斷法則。因為實驗中 Umweg 效應很顯著, 影響到對相位的分析。 而對於結構因子大小的計算, 則顯示考慮積分強度較峰值強度為準確。
- Title
- 利用X光多光干涉計算結構因子大小及相位之研究
- Translated title
- 利用X光多光干涉計算結構因子大小及相位之研究
- Creators
- 鄭育興 (Author)
- Contributors
- 張石麟 (Advisor)
- Awarding Institution
- National Tsing Hua University; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, National Tsing Hua University
- Resource Type
- Thesis
- Language
- English