Abstract
我們利用飛秒雷射激發非線性晶體ZnTe產生兆赫波源，再利用電光取樣方式得到兆赫波電場的時域分布。接著改變光學激發光強度以及變化silicon hole arrays和THz之間的角度做量測。在加入光學激發光後，在我們量測的有效頻段內(0.2 THz~1.1 THz)量測到表面電漿和光子耦合產生表面電漿電磁偏極子之訊號，透過變化樣品和入射光角度量測，觀察到表面電漿電磁偏極子訊號往高頻移動，這和我們所計算的結果相符。
- Title
- 利用兆赫波時域光譜探測半導體次波長孔洞陣列的共振行為
- Translated title
- 利用兆赫波時域光譜探測半導體次波長孔洞陣列的共振行為
- Creators
- 馬志宇
- Contributors
- 齊正中 (Advisor)
- Awarding Institution
- 國立清華大學, 光電工程研究所; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, 國立清華大學, 光電工程研究所
- Language
- Traditional Chinese
- Resource Type
- Thesis
- Date published
- 2010