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利用原子力顯微儀製作鈮薄膜超導量子干涉元件之研究
Thesis

利用原子力顯微儀製作鈮薄膜超導量子干涉元件之研究

黃雅 綺
Masters, 國立清華大學, 物理系
2000

Abstract

鈮薄膜 超導量子干涉元件 原子力顯微儀 約瑟芬接面 電阻分流模型 Nb film SQUID AFM Josephson junction RSJ model
本論文是在大氣中利用接觸式原子力顯微儀(AFM)之導電探針,在具有圖樣的鈮(Nb)薄膜微橋上製作奈米級氧化線結構,欲取代傳統半導體製程的方法,來製作出並聯且兩個極相似的約瑟芬接面(Josephson junction),以構成一個超導量子干涉元件(Superconducting quantum interference device,簡稱為SQUID)。我們在鈮薄膜的底下加鍍一層鈦(Ti)跟一層金(Au),以減小元件正常態的電阻。並且藉著改變施加在針尖與鈮薄膜之間的直流偏壓大小、探針掃描速度、探針接觸力以及空氣濕度,以求得最佳氧化條件。同時也利用施加有負偏壓的交流方波偏壓模式來取代直流偏壓模式,中和積蓄在氧化物表面的空間電荷,來提高氧化效率,增加奈米氧化物的高度及寬度。發現當交流偏壓頻率在100~1K Hz之間,而負偏壓在-3~-4V左右,所製作出的氧化物高度最高。我們將製作好的鈮SQUID放置在液態氦溫度,測量其電流與電壓(I-V)之特性曲線,發現特性曲線符合RSJ model(Resistivity shunted junction model),其約瑟芬接面屬於SNS(Superconductor-normal metal- Superconductor)約瑟芬接面,並且無迴滯的情形發生,即βc<<1。而所製作出的奈米氧化物高度(深度)與臨界電流是呈直線衰減的關係,且通常由交流方波偏壓所製作的鈮約瑟芬接面,因為氧化物深度較深,會得到較小的臨界電流。我們並且量測SQUID臨界電流與磁場的關係,發現大部份的鈮約瑟芬接面屬於long-junction的性質,且在較小磁場的範圍內(0~200mG),我們可以觀察到電壓-磁通調變(Voltage-flux modulation)的圖形,電壓調變深度ΔV約在1~3μV。而所製作的SQUID其電容在1~400pF的範圍內,βL值約10.0~12.0左右。

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