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利用複繞射對分子晶體(RhP2ClOc37H30)作相位分析之研究
Thesis

利用複繞射對分子晶體(RhP2ClOc37H30)作相位分析之研究

劉晉昇
Masters, National Tsing Hua University
1989

Abstract

複繞射分子晶體相位中心對稱非中心對稱CO值吸收修正轉動角向器 (RHP2CLOC37H30)(ABSORPTION-CORRECTION)(GONIOMETER)(ORIENTATION-MATRIX)(THE-PRECESSION-METHOD)
本實驗室從基本波場方程式推導二光近似之三光繞射解。本文即利用結構已知之分子晶體RhP ClOC H 為實驗樣品, 從事複繞射實驗並測試上述方法判別中心對稱或非中心對稱性的可行性。實驗結果發現12個複繞射中有5 個相位偏向零度, 與已知之中心對稱結構相符合, 其餘7 個複繞射所對應之相位卻偏離理論值。我們認為這些偏差一則是由於這種定量決定相位的準確度約在15°?25°之間, 其解析度不足以判定所量測之反射為中心對稱或非中心對稱, 另一則是由於三光繞射之吸收修正工作不易進行,(因缺乏理論根據),因此, 由理論之繼續探討三光吸收效應, 應為以後此一方面研究的課題之一。由實驗的結果, 提出對複繞射方法可行性與建議:1.整個實驗結果取決於平均尺度因子Co值。如果Co在統計上無法精確代表靜力繞射強度, 往後相位諸將會偏離正確相位值。2.Co值受強度測量的統計誤差與靜力峰頂位置的判定影響, 如何取得較佳Co便成了此理論的關鍵點。為了避免ΔΦ=0位置的誤判和降低統計誤差, 最好提高訊號與雜訊比值和繞射強度大小。為了準確反應各個繞身面的相對繞射強度, 實驗繞射強度作吸收修正(Absorption correction) 是必需的。3.實驗過程中, 晶體因重力作用緣故而有下垂現象, 所以必須經常調準 (alignment)晶體, 當轉動角向器(Goniometer)弧度(arc) 時, 應注意Kα,Kα 的解析度(reso-lution圖7.1)。若Kα,Kα 有部分重疊, 造成強度分佈改變, 也將影響所求不變相位值。4.此實驗本想在四元繞射儀上先決定晶體的方位矩陣(Orientation matrix), 但為爭取時效, 利用旋進法(The precession method),依據旋進法所拍照片調整角向器上弧度, 以求四元繞射儀上X=90°時有繞射強峰, 再利用w-2θ 掃描, 從兩峰間的角度差, 求出此繞射峰的定碼。由於一直沒有決定方位矩陣, 所以無法選擇擁有較多組複繞射強峰的原子面當做主要繞射倒晶格向量。往後複繞射實驗, 最好先能決定晶體的方位矩陣, 再利用ψ-Scan 進行複繞射實驗, 必能事半功倍。5.最後, 吾人建議: 多做實驗, 找出使強度分佈偏離的原因, 定量決定相位仍是具有潛力的方法。

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