Abstract
本文描述如何用 3ＭeＶ質子當激發源來做多元素的x射線光譜的微量分析，我們將在文中討論一些這種技術的優點和其限制，應用α計數定出樣品中內部標準元素鈾的含量，再由比較而求出樣品□其他元素含量的技術以及樣品的製備方法，已經完成了。為了相信這種技術的可靠性，我們用已知量可達十億分之一克程度的不同元素來做試測的結果，也將在文中一併提出。
- Title
- 利用質子激發X光射線藉鈾為標準作絕對微量分析的研究
- Translated title
- 利用質子激發X光射線藉鈾為標準作絕對微量分析的研究
- Creators
- 徐振湖 (Author)
- Contributors
- 周仁章 (Advisor)
- Awarding Institution
- National Tsing Hua University; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, National Tsing Hua University
- Resource Type
- Thesis
- Language
- English