Abstract
利用雷射繞射現象來量測顆粒大小分佈情況，具有非破壞性，快速且準確的優點。但至目前為止，此設備的價格昂貴，使得此量測方法無法達到普遍化的程度。本文提出一套利用八面旋轉掃描繞射強度分佈值的方法，可使得其價格降低為現有產品的四分之一，而達到低價位的目的，同時能提供每秒２６４次掃描頻率的速度。本文提出間接函數的概念解法，它擁有最佳化程序及微粒分佈函數的特性。可以一起解決因量測及「T 」矩陣兩種誤差所帶來的困擾，以及在得到體積不連續階梯分佈之後，必須再解分佈函數的雙重步驟。針對一般解分佈函數時所採用Log-least square方法會產生不準確現象。本文提出使用Marquardt method代替來加以改善。並利用已有的實驗數據及電腦模擬數據，依不同的單佈性分佈，重新測試並比較各分佈函數的優劣及適用性。