Abstract
本研究以實驗方評估動態隨機記憶體軟性失誤現象應用在核輻射線偵測的可行性. 實驗過程是以阿爾發射線照射除蓋後之動態隨機記憶體, 並建立了動態隨機記憶體測試電路與微電腦聯結作業.測試項目包括照射條件:照射時間及射源強度, 與動態隨機記憶體操作參數: 資料樣本, 復新頻率及操作電壓. 以數個廠牌256k及1M位元動態隨機記憶體測試顯示, 密度較高的動態隨機記憶體其軟性失誤率較高, 但與廠牌的關係甚大. 採用軟性失誤率較高的動態隨機記憶作為測試樣品, 實驗顯示其軟性失誤的數目與照射時間及射源強度成線性關係, 及多次實驗結果穩定性良好, 因此推論以動態隨機記憶體;作為輻射偵測器確具可行性.在動態隨機記憶體操作參數的設定上,軟性失誤發生率與操作電壓成反比,與復新頻率成正比.在照射時，如動態隨機記憶體；位元處於充電的狀態，則軟性失誤的效率最高．根據實驗數據，1M位元動態隨機記憶體；對阿爾發粒子偵測效率可達約 3%.