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半導體生產後段製程之晶圓測試部份的派工問題研究
Thesis

半導體生產後段製程之晶圓測試部份的派工問題研究

謝有信
Masters, 國立清華大學, 工業工程與工程管理學系
1996

Abstract

半導體 晶圓測試 派工問題
任何可以縮短總工時,節省設置時間或縮短產品在系統中時間的派工方式,對競爭激烈的測試業,是一種提高競爭力的方式。如何將每一類型機台前的產品,針對想要達成的目標函數構建一整數規劃數學派工模式將既有排程下的批量最佳地派工到現場,使得測試業者將現有的資源下發揮最大的效益。但如果使用數學規劃派工模式太耗費時間,則本研究參考現場的派工方式及文獻提出二個敗發式派工方式。最後在爭取時效性下,以C語言將敢發式派工法則編譯成一簡易程式。 盼能藉由整數規劃數學派工模式及啟發式派工方式提供現場派工人員派工時的參考,減低其只以經驗來派工的疏失且降低人治成份,為本研究的主要研究目的。

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