Abstract
低碳電磁鋼片是一項重要的磁性材料。本論文乃研究殘留鋁、添加鋁、鈦和鋁等合金元素對全製程低碳電磁鋼片之電磁性質、顯微結構與優選方位的影響，并探討它們之間的關系與各種作用機構。研究結果發現：當全製程低碳電磁鋼片的殘留鋁含量在 0.001wt %到 0.001 wt%之間，鋼片的鐵損值隨著殘留鋁含量增加而增加，導磁率隨著殘留鋁含量增加而下降。當殘留鋁含量少於 0.007 wt%時，殘留鋁形成化合型介在物，介在物顆粒尺寸隨著殘留鋁含量增加而變細小。當殘留鋁含量大於 0.007 wt%并經過封盒退火時，除了化合物型介在物，溶解於基地的鋁與氮將結合成氮化鋁析出。根據 Zener所提出的機構，這些化合物型介在物和氮化鋁析出物在退火過程中阻止晶界移動，使全製程低碳電磁鋼片的結晶料隨著殘留鋁含量增加而變細。對全製程低碳電磁銅片中鋁含量在 0.022 wt%到 0.032 wt%間；研究結果發現：連續退火溫度高於 750℃時，鐵損值隨著鋁含量增加和退火溫度升高而下降；導磁率受鋁含量的影響，也隨著退火溫度升高而較不明顯地下降；電阻係數則隨著鋁含量增加而增加。在熱軋板中氮化鋁析出物之顆料隨著鋁含量增加而粗化，使連續退火后之結晶粒也隨著鋁含量增加而變大。當低碳電磁鋼片的熱軋完軋接近 變態溫度時，所有銅片的熱軋優選方位為｛ 100 ｝＜ 011 ＞。由於受到析出物同圍變形區域的影響，冷軋后之｛ 111 ｝＜ 112 ＞優選方位的強度隨著鋁含量增加而增強。對於再結晶優選方位平行於銅片表面的｛ 111 ｝ 結晶面數量將受到析出物協助成核和結晶粒選擇性方位成長的機構，使｛ 111 ｝ 結晶面 X- 光繞射相對強度比其他結晶面為強；同時，0.084 wt% 鋁含量的低碳電磁銅片的｛ 111 ｝ 結晶面 X- 光繞射相對強度發現為最低。當全製程低碳電磁銅片添加 0.1 wt%鈦或 0.1 wt%鋁時，無論添加鈦或鈮的低碳電磁銅片，其鐵損值皆比不添加者高，導磁率則較低。添加鈦或鈮於低碳電磁銅片造成T-iC或 NbC碳化物在熱軋板中析出。在連續退火過程中, TiC或NbC阻止結晶料成長并促使平行銅片表面的｛ 111 ｝ 結晶粒數目增加，因而使低碳電磁銅片的電磁性質劣化。 #50003589。 #50003589