Abstract
本篇論文主要介紹偏振抑制的概念，並利用偏振抑制的機制，提高實驗得到的複繞射圖形的相位靈敏度。以複繞射的方法來量取相位往往會因為繞射光中具有相位訊息的動力項，以及不具相位訊息的靜力項，其強度相差極大，則此情況下所得到的相位，會與實際值有很大的誤差。為了克服這個本質上的問題，我們提出兩個解決方法：一是選擇特定的入射光能量，以及特定的入射光偏振方向，如此將可以降低不具相位訊息的靜力項強度，使得實驗所得到的繞射圖形具有較高的相位靈敏度；二是運用偏振分析儀，對複繞射光的偏振方向進行分析，藉著改變偏振分析儀的偏振方向，我們可以得到具有高的相位靈敏度的繞射圖形。