Abstract
用面離子化(surface ionization)蒸發NaCl及 KCl，使NaCl及KCl 變成Na﹢及K﹢之正離，經單聚焦及雙聚焦質譜儀分析之，利用電子撞擊(electron bombardment)分析剩餘空氣的成份。50－W□CO□雷射使Al□O□蒸發，經質譜儀分析之。磁場質量分析儀半徑為9.5cm ，狹縫為１mm×１１mm，電場能量分析儀外徑為27.3cm，內徑為25.5cm，所有儀器除真空系統外，皆國內製造。
- Title
- 單聚焦及雙聚焦質譜儀研究與製造
- Translated title
- 單聚焦及雙聚焦質譜儀研究與製造
- Creators
- 江銘輝 (Author)
- Contributors
- 蘇青森 (Advisor)
- Awarding Institution
- National Tsing Hua University; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, National Tsing Hua University
- Resource Type
- Thesis
- Language
- English