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多晶鑽石碟薄化矽晶圓之破壞層研究
Thesis

多晶鑽石碟薄化矽晶圓之破壞層研究

陳春宏
Masters, 國立清華大學, 動力機械工程學系
2005

Abstract

矽晶圓 薄化 變質層 裂痕 多晶鑽石碟 硬脆材料 silicon wafer thinning deformed layer crack PCD
多晶鑽石碟刮削矽晶圓的方式介於磨削與銑削之間,其多切刃且切刃體積小、切削後傾角大的特性類似磨削加工,而移除材料的模式則類似銑削加工。由於鑽石碟上切刃等高且形狀大小固定的特性,得以控制加工時切刃實際切入材料的深度。由於切深的控制,使鑽石碟能均勻地刮削矽晶圓,而得到均勻的表面。本論文以多晶鑽石碟作為薄化矽晶圓的刀具,在不同的切深下刮削矽晶圓,藉由顯微鏡觀察加工後矽晶圓的表面與次表面形貌,得到破壞層與切深的關係,並了解破壞層生成的模式與鑽石碟刮削矽晶圓的加工特性。

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