Abstract
IC(integrated circuit)壽命測試主要是要估計其期望壽命有多少。據了 解，其測試的方式有很多種。最簡單的測試方法是一個接著一個測試，並 記錄它的壽命時間，直到有ｒ個壞掉才停止測試，假設IC的壽命分配是指 數分配。θ是它的期望壽命，則這個方法的期望測試時間為ｒθ。對一個 高可靠度IC而言，這樣的測試方法是相當費時的。為降低平均的測試時間 ，Epstein和Sobel提出兩種測試過程，一種是非代替測試過程( nonreplacement test) ，另一種是代替測試過程(replacement test)。 其中代替測試過程比非代替測試過程所須期望時間少。因此在本篇論文中 ，我們要應用代替測試過程來估計Ｉ種IC的期望壽命。代替測試過程中， 降低期望測試時間的成本是重要的，但卻會增加IC的成本，反之，要減少 IC的成本，卻會增加期望測試時間，因此如何決定測試器的個數使總成 本(時間成本+IC成本) 為最少也是本論文須要探究的問題。在這篇論文所 要探討的有三部份，第一部份是研究Ｉ種(Ｉ>1) IC的期望測試時間，我 們假設IC的壽命是指數分配，且各種IC最多可同時測試Ｎ個，則在代替測 試過程之下，我們發現逐次測試方試比同時測試方試及結合同時和逐次測 試的混合測試方試所須的期望時間短。第二部份是引進成本概念，如何決 定最佳的Ｎ值，使等候測試時間成本和IC成本的總和為最低。第三部份是 將IC的壽命推廣為Weibull 分配，在非代替測試過程之下，當Ｉ=2時，並 給各參數一實際值，我們發現逐次測試方試比同時測試方試時間少。