Abstract
所謂複繞射，是指同時有兩個以上的反射面滿足繞射條件，產生繞射光。而各反射面間互相的干涉效應，會使該反射面的強度發生變化。根據動力繞射理論，我們可以決定強度變化與三重積相位，及三重積結構因子之間的關係。 在這篇論文中，我們利用X光繞射，以複繞射為原理，所發展出的雙向多光影像法（stereoscopic multibeam imaging），利用二維偵測器（CCD或IP）來收集複繞射圖形，由其強度分布來決定三重積相位，期間將就不同的繞射情形所產生不同的繞射圖形做分析，並探討利用相位擴展（phase extension）的方法計算各反射面的單獨相位，並進一步決定晶體結構分布。