Abstract
近五十年來，熱發光測定術不論在研究或應用領域方面都有相當的人力投入，然而，卻仍舊受限於理論模型而無法完整描述材料的特性。因此，本研究利用近年來甚為風行的電腦化輝光曲線去旋法，來分析消光實驗中輝光曲線所包含的尖峰，並擷取初始捕獲電子濃度、動力學次數、活化能及頻次因數等重要的物理參數，再藉由這些參數的趨勢對熱發光的熱消光現象作細部的探討。 本研究發展的電腦化輝光曲線去旋程式為兼顧分析效率及準確性，即利用雙高斯分布方程式組成的高斯複合尖峰，初始分離出峰形，再採用Chen氏峰形法評估初始值。爾後，代入初始值於Levenberg-Marquardt非線性數值回歸法，決定最佳參數值。應用此程式分析不同材料的輝光曲線，結果顯示其適用於所採用的氟化鈣（銩）、硼酸鎂（鏑、鈉）、氟化鋰（鎂、鈦）及氟化鋰（鎂、銅、磷）等四種材料，且比較消光實驗中擬合所得的熱發光回應量與實驗計讀值之後，發現兩者的消光效應趨勢一致，由此可證實程式在分析消光實驗輝光曲線的適用性，且擬合而得的參數值符合物理意義，故可採信。 根據去旋法所得的結果加以分析，發現當消光現象產生，在硼酸鎂材料中，由於陷阱有分布的情形，而導致活化能與動力學次數呈隨時間增加的趨勢，相同的現象也出現在氟化鈣高溫貯存條件下的第三尖峰。此外，氟化鋰（鎂、鈦）由於尖峰的穩定性極佳，應可用於長期抑或高溫的量測環境中。而氟化鋰（鎂、銅、磷）則受消光及陷阱效應的雙向影響，使某些尖峰的回應量隨時間下降，高溫尖峰卻因捕獲了由淺部陷阱逃逸的電子而導致回應量的上昇。基於上述的探討，利用結果的理論參數建立消光模型來描述材料的熱消光行為應是可行的，應具有接續研究的價值。