Abstract
在兩種狀況下目前有兩種方法可以求得最佳檢測間隔，使得生產線上的單位平均損失達到最小：其一為田口線上品管方法，其單位平均損失計算如下式：EL=另一種為Iyer與Vecchia 所提出在幾何分配下的模型，其單位平均損失計算如正式：EL=但是田口方法缺乏統計理論的支持；Iyer與Vecchia 的模型計算繁復且只能適用於最簡單制程。因此我們除了對此二模型加以介紹外，并將Iyer與Vecchia 模型擴充到更一般的情形，其單位平均損失計算如下式：EL=比較其異同，發現田口方法是幾何模型之一特例。經由模擬的結果及證明證實此一論點。而田口方法的適用範圍為：假設在制程良品發生率q 已知的情況下，(i) 若q≡0.999, 則使用田口方法。(ii)若0.9≒q＜0.999,則必須使用2、 表3 來幫助判斷。(iii) 若q＜0.9, 則使用幾何分配模型。此外，針對工具更換策略及自動化檢測策略，我們也利用上面兩種方法求得最佳檢測間隔并加以比較。