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序頻帶二氧化碳雷射之光阻抗穩頻及絕對頻測量
Thesis

序頻帶二氧化碳雷射之光阻抗穩頻及絕對頻測量

謝澄銀
Masters, National Tsing Hua University
1989

Abstract

序頻帶二氧化碳雷射光阻抗穩頻絕對頻率測量譜線
我們分別將二氧化碳雷射序頻帶及基頻帶譜線, 以射頻光阻抗蘭姆凹陷(RF optogalvanic Lamb-dip)及4.3 μm 飽和螢光方法鎖在譜線中心。頻率穩定度分別可達2×10(70KHz) 及1×10 (3KHz) 。穩頻後, 利用鎢–鎳製的“金屬–絕緣體–金屬之點接觸二極體”(MIMD), 測得18組二氧化碳雷射序頻帶和基頻帶譜線的拍頻(訊噪比5?30dB) 頻率。加上已知很準確的基頻帶頻率值, 推算出的18條序頻帶譜線的絕對頻率, 準確度好於1.7×10 (500KHz) 。加上59條文獻上的序頻帶譜線頻率, 我們計算出新的序頻帶譜線的頻帶的中心頻率及分子常數。利用6AQ5A 真空管, 自製的35.6MHz 射頻電路。於340mtorr的CO ﹕N =1﹕1 混合氣之RF放電管中, 取得訊噪比很好的RF-OGE信號。將之做序頻帶譜線的蘭姆凹陷穩頻, 頻率穩定度保守估計優於2×10 (70KHz) 。同時, 我們也觀測到低氣壓直流放電之光阻抗蘭姆凹陷及利用longitudinal cell 觀察到4.3μm飽和螢光凹陷。目前序頻帶的頻率穩定度(2×10 ), 雖然離建立頻率標準的要求, 還差一點, 但在許多高解析度紅外光譜學的應用上則已足夠。而序頻帶譜線的頻率測量, 目前雖只測到18條, 但測量設備齊全後, 及改進量測技術, 將可測得更多的譜線。相信論文研究的結果, 會促進序頻帶二氧化碳雷射的應用性。

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