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Thesis
應用於先進鰭式電晶體邏輯製程之新型電漿充電損害記錄元件暨電荷分離記錄特性之研究
謝定寰
Masters, 國立清華大學, 電子工程研究所
2016
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天線效應
電漿充電損害
鰭式場效電晶體
Antenna Effect
Plasma Induced Damage
FinFET
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Title
應用於先進鰭式電晶體邏輯製程之新型電漿充電損害記錄元件暨電荷分離記錄特性之研究
Translated title
應用於先進鰭式電晶體邏輯製程之新型電漿充電損害記錄元件暨電荷分離記錄特性之研究
Creators
謝定寰
Contributors
金雅琴 (Advisor)
Awarding Institution
國立清華大學, 電子工程研究所; Masters
Theses and Dissertations
Masters, 國立清華大學, 電子工程研究所
Language
Traditional Chinese
Resource Type
Thesis
Date published
2017
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