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應用於先進鰭式電晶體邏輯製程之新型電漿充電損害記錄元件暨電荷分離記錄特性之研究
Thesis

應用於先進鰭式電晶體邏輯製程之新型電漿充電損害記錄元件暨電荷分離記錄特性之研究

謝定寰
Masters, 國立清華大學, 電子工程研究所
2016

Abstract

天線效應 電漿充電損害 鰭式場效電晶體 Antenna Effect Plasma Induced Damage FinFET
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