應用資料分析構建智慧型良率偵測和診斷分析系統：半導體代工廠之實證研究

Thesis

應用資料分析構建智慧型良率偵測和診斷分析系統：半導體代工廠之實證研究

陳怡君

Masters, 國立清華大學, 工業工程與工程管理學系碩士在職專班

2017

Abstract

大數據

資料探勘

智慧製造

異常良率偵測

異常良率診斷

良率改善

半導體製造

big data

data mining

smart manufacturing

anomaly yield detection

anomaly yield diagnostic

yield improvement

semiconductor manufacturing

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Details

Title: 應用資料分析構建智慧型良率偵測和診斷分析系統：半導體代工廠之實證研究
Translated title: 應用資料分析構建智慧型良率偵測和診斷分析系統：半導體代工廠之實證研究
Creators: 陳怡君
Contributors: 邱銘傳 (Advisor)
Awarding Institution: 國立清華大學, 工業工程與工程管理學系碩士在職專班; Masters
Theses and Dissertations: Masters, 國立清華大學, 工業工程與工程管理學系碩士在職專班
Language: Traditional Chinese
Resource Type: Thesis
Date published: 2018