Abstract
在本實驗中，嘗試楮以有的繞射儀，加裝一個簡單的自製溫控系統，並利用在樣品腔體內裝設一紅銅所製的大塊樣品座(sample holder)，此座之功能類同於熱力學中的熱源 (reservoir)，由於其熱容遠大於樣品本身，故其溫度之靈敏度可達一定之水準。實驗部分則以樣品(MD312A)在其扭曲性顆粒狀邊界相(twist grain bourdary phase, 簡稱TGB phase)的相變點附近，進行較小溫度範圍的X光掃描(X-ray scan)，以定出其相變點。
- Title
- 扭轉晶粒TGBA液晶MD312A相變化之X光散射研究
- Translated title
- 扭轉晶粒TGBA液晶MD312A相變化之X光散射研究
- Creators
- 劉博文 (Author)
- Contributors
- 張石麟 (Advisor)
- Awarding Institution
- National Tsing Hua University; Masters
- Theses and Dissertations
- Masters, National Tsing Hua University
- Resource Type
- Thesis
- Language
- English