Abstract
Ｘ光的不變相位是分析單晶結構的重要參數，可以藉由許多不同的方法，來測得其值，複繞射的使用也是目前正在發展的決定相位的技術之一。相位對複繞射峰形的影響，已有許多理論計算與實驗探討，大部分是在於對稱（平面）切割晶體下所做的討論。本文的目的即在探討在非對稱切割的晶面（斜面）下，在複繞射產生時，其峰形的變化，以及對決定出來相位的影響。由實驗得知斜面對峰形影響極微，因此對決定出的相位影響亦極小。本次實驗主要在探討斜面對決定出相位值皂影響，由於所用Ｘ光的發散程度的太大，似致造成相位訊息的模糊，但由繞射出峰形的變化極釔來看，我們可以肯定斜面的變化對繞射峰形的影響不明顯，由強度的測量也知斜面對強度的影響大約１至２倍左右，因此Ｘ光發散所造成的效應，對不同的斜面，得到類似的峰形。若要真正研究斜面對繞射峰形的微小影響，我們必須Ｘ光的發散程度降低，使得dynamical part的效應能明顯的出現。這時才能真正度量出斜面對峰形以及由峰形匠取出相位訊息的微小影響。